1)适合多种类型的测试,模拟及数字集成电路及多种分立器件的测试
2)可进行在线或离线测试与分析
3)具有24路测试通道，也可使用探棒进行巡检测试，针对多种类型的封装元件进行测试。
4)安全性高的无电源测量方式，不用给电路板加电，系统自动施加多种类型的测试条件，可能地保测试安全。
5)多种测试类型：1)简单类型V-I曲线测试，针对固定某一管脚的不同管脚的测试，2)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试。提供了丰富的测试信息，测试的可靠性。
6)在进行离线测试时, 可针对蕊片内部进行阻抗分析
7)自动对比及储存V-I曲线,以备日后调取，方便了元件库的建立
8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控规元器件或FET的功能测试
10)可进行光耦合及继电器元器件的速度功能测试
11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光耦合器及继电器进行稳态测试.
12)显示相似度百分比，具有业界中信号频率调整档位, 对于故障的查找有相当的帮助.
13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件
14)系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止量测信号失真.
15)可进行维修日志的编写，将维修记录长期保存，以备日后查看。
16)可由软件加入图片, 用来清楚的表示被测元件的位置及电路板样式.
17)可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作, 也可安装在PC内来节省所占的空间.
