二维V-I动态阻抗端口测试通道：256+64路

三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：64路

功能用途：

1）集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；

2）快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件；

3）对不良器件进行三维动态阻抗失效分析；

4）非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析；

5）快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚；

6）测试安全可靠，全面解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题；

7）进行集成电路和电路板阻抗一致性检测；

8）配合专用测控平台软件，实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

技术规格：

1）256+64路V-I端口动态阻抗测试通道；

2）64路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道；

3）4路探笔测试，4路V-T/V-T-F测试通道；

4）显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F；设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道；

5）可定制各种封装通用集成电路测试治具；

6）可定制各种电路板I/O接口测试治具；

7）系统提供测试自定义报告输出；中英文专用测试操作软件。

测试原理(v-i曲线测试)：

 对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识.

适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定各种测试条件.

可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

英国ABI-AT256全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:

 -双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: AT256不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。

三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

AT256测试报告

AT256A1集成电路测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:256+64路;

三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路;

北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心）提供:

集成电路测试仪,集成电路筛选测试仪,元器件筛选测试仪,元器件检测仪,三维立体动态阻抗测试仪的使用技术培训服务,测试程序开发编译服务,咨询电话: 010-82573333.