北京金三航科技发展有限公司主要销售集成电路测试仪,电路板故障检测仪,电路板反求系统,边界扫描测试仪,电路板维修工作站,提供某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告.
——测试时间：2012-03-29 测试结果：失败
测试元件型号：SPHE8202L-F3-OK2
Test Summary
| Device: | SPHE8202 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F5-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F3-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F2-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F1-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 201…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-22测试结果：失败测试元件型号：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCE…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2011-06-30 测试结果：失败测试元件型号：16C554测试设备：英国ABI-AT25616c544故障器件测试结果图st16c544管脚图AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin…… [了解更多]
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