北京金三航科技发展有限公司主要销售集成电路测试仪,电路板故障检测仪,电路板反求系统,边界扫描测试仪,电路板维修工作站,提供某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件测试报告.
——测试时间：2012-03-29 测试结果：失败
测试元件型号：SPHE8202L-F2-OK2
测试设备：英国ABI-AT192
Test Summary
| Device: | SPHE8202 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | SUSPECT |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F5-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F3-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F2-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
测试时间：2012-03-29 测试结果：失败测试元件型号：SPHE8202L-F1-OK2测试设备：英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]
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