二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路; 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路; 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路;
二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路; 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路; 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;
最大测试管脚数:256测试适用范围:元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)测试原理(v-i曲线测试):对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动
二维V-I动态阻抗端口测试通道:256+64路; 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路;
二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路; 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路; 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路;
内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知型号元件;元件代换查询;与PC连接可以进行通讯与测试;
循环测试-判定间歇性故障元器件更准确;采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.
电 话:010-82573333 邮 箱:h4040@163.com 地 址:北京市海淀区苏州街18号长远天地大厦A2座711室 邮 编:100080
Copyright ©英国ABI中国技术服务中心-提供全面完整电路板测试方案-电路板故障测试方案,Inc.All rights reserved. 京ICP备05068049号 京公海网安备110108001146号