英国ABI-BM8600多功能电路板故障诊断工作站整体概述：：
测试方法快速化—器件级快速定位电路板故障
测试手段全面化—多种手段全面检测电路板故障:功能测试、仿真测试、端口测试
测试过程流程化—测试过程：工艺化、标准化、流程化。排除人为因素干扰。
测试结果数据化—测试结果信息化、数据化。
硬件系统测试功能模块化设计，可根据需求扩充测试功能和测试通道。测试功能：多电源数字电路测试功能、模拟电路测试功能、三维立体动态阻抗测试功能、专用多功能仪表测试功能、专用流程控制可调式电源。
软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程,提高排查故障和测试效率。
系统包含检测原理：功能测试、仿真测试、动态阻抗测试。系统可以完成如下功能：电路板整板仿真测试与功能测试、电路板整板V-I-F动态阻抗端口测试分析、电路板故障快速定位、元器件功能库测试、图形化元件测试库和整板测试库编辑与测试、整板一致性分析测试与检测、整板元器件老化趋势分析、电路板可靠性保障分析与测试。
系统可以实现测试结果数据化，自定义测试报告。
软件流程化设计
生成自定义测试报告
巴西圣保罗地铁所使用的专属界面——界面自定义设计与布局
英国ABI-BM8600多功能电路板故障诊断工作站主要功能特点：
1．硬件系统测试功能化设计，可根据要求扩充测试功能和测试通道。
2．软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程，提高排故和测试效率。
3. 软件界面自定义化设计与布局：用户可设计自己特有的仪器界面、软件布局。
4. 测试数据记录并生成自定义检测报告。测试报告包含用户关注的测试数据与测试结果。
5. 多电源数字电路测试功能具有64通道数字集成电路在线、离线功能测试（可扩充到2048通道），每个通道可以根据需要分别独立定义为：输入/电压测量、输出/信号驱动或V/I曲线测量；可进行自定义测试，器件与整板的仿真测试。
6. 阈值电平临界点扫描测试功能，确定标准板电平临界值，可以检查故障板器件的稳定性。
7. 逻辑时序测试功能：输入、输出图形显示，各个通道具体逻辑时序电平值数字化显示等。
8. 具备逻辑电平阈值自定义功能。可以设定非标准逻辑电平阈值，检查不稳定元器件；
9. 系统可对各种器件进行端口测试： V-I、V-T、V-I-F、I-T测试.V-I测试频率低达1Hz，V-I-F测试频率高达10kHz；
10. 128路变频三维立体V-I-F测量通道，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障，适合数字及模拟集成电路与电路板的测试。
11. 系统各个功能可在同一个专业平台操控下同时运行，完成流程化、步骤化、标准化测试并生成自定义测试报告。
12. 集成8种测试仪器于一体：数字示波器、任意波形发生器、数字电压表、数字电流表、数字电阻表、频率计、通用I/O、辅助电源。8种常规测试仪器可以并发操作，测试数据可形成测试报告，对电路板进行仿真测试、调试测试、一致性测试等整板测试。
13. 同步脉冲输出模式：单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲；同步脉冲时间宽度连续可调；
14. 可调式电源具有3路可调电源，电源输出由系统软件来控制，测试时自动开启和关闭电源。
15. 多达上万种的数字器件测试库，测试器件库涵盖常用的器件，可以通过图形化器件编辑器定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速批量建立元器件和整板测试库。
16. 系统含有模拟器件测试库，可对放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应晶体管、光耦器件、AD和DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。
17. 智能脚踏开关使双手专注于电路板测试，节省测试时间，增加软件和仪器之间的交互，提高测试效率，方便用户保存测试结果和设置。
英国ABI-BM8600多功能电路板故障诊断工作站测试夹具（选项）：
1）DIL测试夹具（6支装）
2）SOIC测试夹具（6支装）
3）伸缩探针
4）微型测试钩
5）ABI训练板
6）脚踏开关
7）分立器件测试探针（4支装）
8）模拟V-I离线测试盒
9）PLCC测试夹具
10）QFP测试夹具
11）SOIC 探针夹具
12）BGA测试夹具
