英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断产品简介：

    系统配有专用Premier 操作软件,系统中的所用测试项目可以同时操作使用,并按照需求制定测试工作流程,记录下测试者每一步的测试数据,形成宝贵的标准测试程序

    标准测试程序功能 (TestFlow) 可以将电路板的故障定位工作,转换成一个循序渐进的标准程序,并降低测量的不准确性并且记录所有的测量参数. 技术工程人员可以自行编写一个标准的测试程序,或经由TestFlow为特定的电路板设定标准的量测步骤及记录测量的结果. 工程人员也可以加入电路图或实际的电路板图片,甚至是加入一些指示来帮助检测工作的进行. 半熟练的工程人员只需要按步就班的依指示及图示来操作设备,便可以完成所有的检测工作.

英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断产品综述：

数字集成电路测试的高级测试模块(ATM)

提供了1个数字集成电路功能测试模块,其具有64个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.

该模块是升级产品,是数字集成电路测试的高级测试模块,系统提供信息更全面,更准确.测试条件更丰富,仿真测试输入条件电压电流可以根据需要-10V~+10V之间自己定义,检测输出的电平也可以自己定义.6500模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷.

模拟集成电路测试功能模块(AICT)

在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路进行功能测试.所有常见的模拟集成电路皆可以测试,系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试,不需要编辑程序或参考电路图.在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能,电路板或集成电路可在无电源供给的情形下,得到清楚易懂的图形化测试结果.2500模块包含标准模拟器件参数测试库。

数字可调式电源供应器模块(VPS)

此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源.其具有三组可调式电源输出,并同时具有过电压及过载保护功能.

Digital IC Test 数字集成电路测试功能

具64个量测通道 (64通道X1组模块).八组输出隔离信号.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.

Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.

Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能

具64量测通道(64通道X1个模块).可调整测量信号电压范围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.

Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能

具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路补偿功能.具有外接盒可供选配.

Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能

具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式，并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.

Graphical Test Generator 数字时序编辑功能

具有64个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.

Short Locator 短路电阻测量功能

具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.

Variable Power Supply 可调型电源输出功能

逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V并具有过电压跳脱功能.另外有可调式的正负电源输出,其可电压可调范围为-24V到+24V.其输出电流能力可达1A.

模块介绍

ATM数字集成电路测试模块

英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断主要功能:

64通道数字集成电路在线、离线功能测试

64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)

强大的元器件和整板仿真测试功能

阈值电平零界点扫描测试

短路追踪测试(低电阻测试)

实时显示输出逻辑电平值

存储器功能测试

数字时序编辑功能

未知器件型号查询

程控电源供电

测试准确-源自先进的测试技术

同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.

图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.

整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.

逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.

逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.

短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.

输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.

V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.