英国ABI-3200三维立体V-I-F动态阻抗分析仪特点:
三维立体V-I-F曲线测试仪
变频扫描V-I-F曲线测试仪
专业级V-I-F曲线测试仪
静态诊断电路板, 不必外加电源即可进行测试。
检测电路板上受损器件。
可检测出具有泄漏型故障的器件。
可检测出不相同的器件。
将损坏风险降至最低。
具多通道测试（64通道）, 可减少测试时间。
英国ABI-3200三维立体V-I-F动态阻抗分析仪
可在静态条件下分析器件及整板测试采用独特的测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件- 增加问题检测范围, 同时, 减少测试时间!
何谓V/I曲线测试?
对于模拟及数字电路板, V/I曲线测试是成熟、可靠的解决方案。
透过一个限流电阻器, 施加AC电压到一个测试点时, 测量因此产生之电流, 并将结果绘制成一个电压/电流图形, 即显示该测试点的特性曲线。
分析V/I曲线,通常是与一参考点作比较,而检测如下问题:
漏电流器件。
内部受损器件。
错误数值的器件。
不一致的器件。
短路与开路。
变频扫描方式---增加问题查找范围!
ABI-3400模块, 通过改变V/I信号的AC电压的频率, 而增加问题检测范围, 其产生的曲线, 绘制在一个3D窗口内, 能让使用者观察到整个频率范围上的V/I曲线变化, 进而找到标准V/I分析方法看不见的问题。
矩阵式扫描V/I----- 增加问题查找范围!
ABI-3200模块也可使用矩阵式扫描获得V/I曲线, 而增加问题检测范围。在这个模式时, ABI-3200模块是在参考所有其它有效管脚(不同于标准V/I测试中只有一个参考管脚)的情形下, 获得一个器件或电路板每个管脚的V/I曲线。如此,便能产生丰富的数据组(一个20脚器件400条曲线), 足以检测出最不易查找的故障。
静态测试=安全测试!
被测电路板是在静态测试下撷取曲线, 这降低了器件在测试当中受损的机率, 容许半熟练的操作人员执行初步测试。更重要的是,即使是完全”闲置”的电路板, 也能作测试诊断!
多通道=更快速的测试!
ABI-3400模块配备64个测试信道(可扩充), 可测试大规模器件、甚至整个电路板的曲线(例如, 透过一个转接连接头), 这可大幅减少测试所需时间，快速诊断各种电路板，而无须检查每个管脚。
英国ABI-3200三维立体V-I-F动态阻抗分析仪测试功能
ABI-3200模块提供多种形式的V/I曲线测试及可设定的参数, 可扩大其应用范围及增加测试范围, 包括:
变频扫描进行V/I曲线测试。
设定频率进行扫描的V/I曲线测试。
矩阵式扫描进行V/I测试。
脉冲输出进行的动态V/I测试。
